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分析九州娱乐在测试电路过程中产生开路不良的原因
发布时间:2015-07-11 新闻来源:九州娱乐登录网址
下一篇:自动化测试治具主要有哪几种类型?
九州娱乐在测试电路的过程中发现开路不良的现象(常由探针接触不良所致),那么我们应该如何解决呢?
九州娱乐测试电路开路不良只针对某一短路群而言,例如:有短路群:【1,4,10,12】,ICT测试出1,10开路不良,表示PCB上测试点1与测试点10之间电阻大于55Ω(或55-85Ω),可以用万用表在PCB上的测试点上进行验证。
产生这种现象的原因有以下几点:
1)继电器、开关或变阻器的位置有变化。
2)PCB上铜箔断裂,或ViaHloe与铜箔之间open。
3)九州娱乐的测试针坏掉了,或针形与待测板上的测试点不适合。
4)某一元器件漏装、焊接不良、错件等。
5)九州娱乐测试点上有松香等绝缘物品。
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